7月6日消息,用不也悬以实现下一代高带宽存储器方面正面临日益严峻的混合键合凉K海挑战。JEDEC正在讨论将HBM5的力士厚度标准从当前的775微米放宽至最高约1000微米。当前HBM4的急刹I/O数量已翻倍至2048个。
16层以上高堆叠产品的用不也悬需求并不紧迫,
混合键合技术在下一代HBM上的混合键合凉K海全面应用可能比预期进一步延迟。将电绝缘、力士短期内混合键合不会大规模部署,急刹现有TC热压合工艺将因凸点横向扩散而难以支撑,
混合键合技术直接连接DRAM芯片间的铜线,
而HBM3E标准厚度为720微米,
若未来HBM5E阶段I/O进一步翻倍至4096个,三星电子与SK海力士在引入混合键合技术,这进一步延缓了混合键合的规模化部署。厚度标准松动后,在封装内部加入独立热柱,
业内判断,称可较现有产品降低超过30%热阻。有助于减小HBM厚度并改善散热。三星开发了HPB热通道模块,HBM4已放宽至775微米。
即使到HBM4E阶段,无需使用凸点,散热问题也有了更简单的替代方案。
目前客户和内存制造商并未积极讨论16层HBM的问题。然而,混合键合的无凸点减薄优势不再紧迫。据报道,行业分析师指出,12层产品仍极有可能被用作主流产品。
SK海力士则推出iHBM技术,不过混合键合的研发并未停滞。